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AlGaAs/InGaAs p-HEMT 소자에서 내부 전자 트랩과 표면 결함이 전달컨덕턴스 분산 및 게이트 누설전류 특성에 미치는 영향
AlGaAs/InGaAs p-HEMT 소자에서 내부 전자 트랩과 표면 결함이 전달컨덕턴스 분산 및 게이트 누설전류 특성에 미치는 영향
Detailed Information
MARC
008030716s2000 ULKa a KOR■022 ▼a02533847
■245 ▼aAlGaAs/InGaAs p-HEMT 소자에서 내부 전자 트랩과 표면 결함이 전달컨덕턴스 분산 및 게이트 누설전류 특성에 미치는 영향▼d최경진, 이종람 공저
■260 ▼a서울▼b대한금속.재료학회▼c2000.
■300 ▼app. 1118-1125
■653 ▼aALGAASINGAAS▼aPHEMT▼a소자▼a에서▼a표면▼a결함▼a전달▼a분산▼a게이트▼a누설▼a전류▼a특성
■700 ▼a최경진, 이종람
■773 ▼t대한금속.재료학회지▼gVol.38 No.8 2000▼d2000, 08
■SIS ▼aS009117▼b60013425▼h8▼s2
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