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AlGaAs/InGaAs p-HEMT 소자에서 내부 전자 트랩과 표면 결함이 전달컨덕턴스 분산 및 게이트 누설전류 특성에 미치는 영향
AlGaAs/InGaAs p-HEMT 소자에서 내부 전자 트랩과 표면 결함이 전달컨덕턴스 분산 및 게이트 누...
AlGaAs/InGaAs p-HEMT 소자에서 내부 전자 트랩과 표면 결함이 전달컨덕턴스 분산 및 게이트 누설전류 특성에 미치는 영향

Detailed Information

자료유형  
 기사
ISSN  
02533847
서명/저자  
AlGaAs/InGaAs p-HEMT 소자에서 내부 전자 트랩과 표면 결함이 전달컨덕턴스 분산 및 게이트 누설전류 특성에 미치는 영향 / 최경진, 이종람 공저
발행사항  
서울 : 대한금속.재료학회, 2000.
형태사항  
pp. 1118-1125
키워드  
ALGAASINGAAS PHEMT 소자 에서 표면 결함 전달 분산 게이트 누설 전류 특성
기타저자  
최경진, 이종람
기본자료저록  
대한금속.재료학회지 : Vol.38 No.8 2000 2000, 08
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60014575

MARC

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