서브메뉴
검색
Test generation for VLSI chips : Tutorial
Test generation for VLSI chips : Tutorial
Detailed Information
- 자료유형
- 단행본
- ISBN
- 0818647868
- 청구기호
- 569.3 V822t
- 서명/저자
- Test generation for VLSI chips : Tutorial / Vishwani D. Agrawal , Sharad C. Seth.
- 발행사항
- Los Alamitos, California : IEEE Computer Soci, 1988.
- 형태사항
- x, 401 p. : illus. ; 28 cm.
- 서지주기
- includes index.
- 기타저자
- Seth, Sharad C.
- 가격
- 40000
- Control Number
- kjul:50026917
MARC
008010917s1988 us a 001 eng■005 20010917151041.0
■020 ▼a0818647868
■035 ▼aKRIC00388284
■090 ▼a569.3▼bV822t
■1001 ▼aAgrawal, Vishwani D.
■24510▼aTest generation for VLSI chips▼bTutorial▼dVishwani D. Agrawal▼eSharad C. Seth.
■260 ▼aLos Alamitos, California▼bIEEE Computer Soci▼c1988.
■300 ▼ax, 401 p.▼billus.▼c28 cm.
■504 ▼aincludes index.
■7001 ▼aSeth, Sharad C.
■9500 ▼b40000
Preview
Export
ChatGPT Discussion
AI Recommended Related Books
Подробнее информация.
- Бронирование
- не существует
- моя папка
- Reference Materials for Thesis Writing
- Reference Materials for Research Ethics
- Job-Related Books
| Reg No. | Количество платежных | Местоположение | статус | Ленд информации |
|---|---|---|---|---|
| W026917 | 569.3 V822t | 서양서제2서고 | 대출가능 |
대출가능 My Folder 부재도서신고 |
| W026918 | 569.3 V822t c.2 | 서양서제2서고 | 대출가능 |
대출가능 My Folder 부재도서신고 |
* Бронирование доступны в заимствований книги. Чтобы сделать предварительный заказ, пожалуйста, нажмите кнопку бронирование
