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CMOS 回路의 테스트 패턴 生成에 관한 硏究
CMOS 回路의 테스트 패턴 生成에 관한 硏究
상세정보
MARC
008960621s1989 ulk AX 000a kor■056 ▼a569.3▼23
■090 ▼a569.3▼b김73c
■1001 ▼a김재우
■24510▼aCMOS 回路의 테스트 패턴 生成에 관한 硏究▼d金載佑 著.
■260 ▼a서울▼b漢陽大學校 産業大學院▼c1989.
■300 ▼aii,37 p.▼c26 cm.
■5020 ▼a석사학위논문▼b한양대학교 산업대학원▼c전자공학▼d1989
■650 0▼a전자관회로
■653 ▼a생성▼a패턴▼aCMOS▼a회로▼a테스트
■9500 ▼b4000


