자료유형  

 학위논문

청구기호  

569.2 양15표

저자명  

양광선

서명/저자  

표면 채널 p-MOSFET의 Hot-Carrier에 의한 노쇠화 / 양광선 저.

발행사항  

서울 : 연세대학교 대학원, 1992.

형태사항  

xii,115 p. ; 26 cm.

학위논문주기  

박사학위논문 - 연세대학교 대학원 : 전자공학과, 1992

일반주제명  

전기공학 전자공학

키워드  

표면채널p-MOSFET Hot-Carrier 노쇠화

가격  

4000

Control Number  

kjul:40001016