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도서명 :
플라즈마 에칭으로 손상된 4H-실리콘
카바이드 기판 위에 제작된 MOS 커패시터의 전기적 특성
저 자 :
조남규 ( Jo Nam Gyu )
청구기호 :
소장처 :
참고자료실(관광학관2층)
대출요구사항 :
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