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도서명 :
Improved Breakdown V
oltage Characteristics of In0.5Ga0.5P/In0.22Ga0.78As/GaAs p-HEMT with an Oxidized GaAs Gate
저 자 :
I-H.Kang
청구기호 :
소장처 :
참고자료실(관광학관2층)
대출요구사항 :
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