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도서명 :
Spectroscopic Eviden
ce for the Defect-Mediated Generation-recomvination Model for the Hole Capacitance fof Amorphous Silicon in a Metal-Insulator-Semiconductor Capacitor
저 자 :
Geuk-Jeong Bang
청구기호 :
소장처 :
참고자료실(관광학관2층)
대출요구사항 :
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