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도서명 :
Analysis of Chemical
Bond States and Electrical Properties of Stacked AlON/HfO₂ Gate Oxides Formed by Using a Layer-by-Layer Technique
저 자 :
Wonjoon Choi.
청구기호 :
소장처 :
참고자료실(관광학관2층)
대출요구사항 :
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