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도서명 :
I/f Noise Characteri
stics of Sub-100 nm MOS Transistors
저 자 :
Jeong-Hyun Lee, Sang-Yun Kim, Ilhyun Cho, SunboH
청구기호 :
소장처 :
참고자료실(관광학관2층)
대출요구사항 :
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