인쇄
미지정
도서명 :
PMOSFET에서 Hot Carrie
r Lifetime은 Hole injection에 의해 지배적이며, Nano-Scale CMOSFET에서의 NMOSFET에 비해 강화된 PMOSFET 열화 관찰
저 자 :
나준희, 최서윤, 김용구, 이희덕
청구기호 :
소장처 :
참고자료실(관광학관2층)
대출요구사항 :
출력