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도서명 :
박막 게이트 산화막을 갖는 n-MOS
FET에서 SILC 및 Soft Breakdown 열화동안 나타나는 결함 생성
저 자 :
이재성
청구기호 :
소장처 :
참고자료실(관광학관2층)
대출요구사항 :
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