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도서명 :
복잡한 다층 VLSI 배선구조에서의
효율적인 신호 무결성 검증 방법
저 자 :
진우진, 어영선, 심종인
청구기호 :
소장처 :
참고자료실(관광학관2층)
대출요구사항 :
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