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도서명 :
순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출
을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조
저 자 :
허경회, 강용석, 강성호
청구기호 :
소장처 :
참고자료실(관광학관2층)
대출요구사항 :
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