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1 Results:SS:의해 PP:대한전자공학회 AA:나준희, 최서윤, 김용구, 이희덕 0.62 sec.
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PMOSFET에서 Hot Carrier Lifetime은 Hole injection에 의해 지배적이며, Nano-Scale CMOSFET에서의 NMOSFET에 비해 강화된 PMOSFET 열화 관찰
PMOSFET에서 Hot Carrier Lifetime은 Hole injection에 의해 지배적이며, Nano-Scale CMOSFET에서의 NMOSFET에 비해 강화된 PMOSFET 열화 관찰
나준희, 최서윤, 김용구, 이희덕, | 대한전자공학회 | 2004 ,
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