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0.18㎛ CMOS Technolngy에서 인터커넥트 라인에 의한 지연시간의 게이트 폭에 대한 의존성 분석
0.18㎛ CMOS Technolngy에서 인터커넥트 라인에 의한 지연시간의 게이트 폭에 대한 의존성 분석
장명준, 이희덕, | 대한전자공학회 | 2000 ,
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