본문

  1. Home
2 Results:SS:결함 AA:최경진, 이종람 0.31 sec.
RSS 
Multilingual
 การค้นหาขั้นสูง
 เดินทางมาถึงค้นหาวัสดุใหม่
พิมพ์ที่เลือก Select Export to Excel
1
GaAs metal-semiconductor field-effect transistor에서 표면 결함이 소자의 전달컨덕턴스 분산 및 게이트 표면 누설 전류에 미치는 영향
GaAs metal-semiconductor field-effect transistor에서 표면 결함이 소자의 전달컨덕턴스 분산 및 게이트 표면 누설 전류에 미치는 영향
최경진, 이종람, | 대한전자공학회 | 2001 ,
2
AlGaAs/InGaAs p-HEMT 소자에서 내부 전자 트랩과 표면 결함이 전달컨덕턴스 분산 및 게이트 누설전류 특성에 미치는 영향
AlGaAs/InGaAs p-HEMT 소자에서 내부 전자 트랩과 표면 결함이 전달컨덕턴스 분산 및 게이트 누설전류 특성에 미치는 영향
최경진, 이종람, | 대한금속.재료학회 | 2000 ,
처음1마지막