본문

  1. Home
7 Results:AA:김용준 PP:대한전자공학회 0.66 sec.
RSS 
다국어입력
 상세검색
 신착검색
선택출력 선택엑셀내보내기
1
시드 병합을 통한 테스트 테이터의 압축 방법
시드 병합을 통한 테스트 테이터의 압축 방법
이민주, | 대한전자공학회 | 2005 ,
2
다양한 코어의 병렬 테스트를 지원하는 효과적인 SoC 테스트 구조
다양한 코어의 병렬 테스트를 지원하는 효과적인 SoC 테스트 구조
김현식, | 대한전자공학회 | 2006 ,
3
효율적인 고장진단을 위한 딕셔너리 구조 개발
효율적인 고장진단을 위한 딕셔너리 구조 개발
김상욱, 김용준, 전성훈, 강성호, | 대한전자공학회 | 2006 ,
4
효율적인 혼합 BIST 방법
효율적인 혼합 BIST 방법
김현돈, 신용승, 김용준, | 대한전자공학회 | 2003 ,
5
내장형 자체 테스트 패턴 생성을 위한 하드웨어 오버헤드 축소
내장형 자체 테스트 패턴 생성을 위한 하드웨어 오버헤드 축소
김현돈, 신용승, 김용준, | 대한전자공학회 | 2003 ,
6
SoC IP 간의 효과적인 연결 테스트를 위한 알고리듬 개발
SoC IP 간의 효과적인 연결 테스트를 위한 알고리듬 개발
김용준, 강성호, | 대한전자공학회 | 2003 ,
7
SRAM 기반의 FPGA 연결선을 위한 고장 진단 알고리듬 개발
SRAM 기반의 FPGA 연결선을 위한 고장 진단 알고리듬 개발
김용준, 김지혜, 전성훈, 강성호, | 대한전자공학회 | 2004 ,
처음1마지막