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신경회로망을 이용한 반도체 패키지의 결함검사용 알고리즘 개발
신경회로망을 이용한 반도체 패키지의 결함검사용 알고리즘 개발
Detailed Information
- 자료유형
- 기사
- ISSN
- 12267937
- 저자명
- 김재열
- 서명/저자
- 신경회로망을 이용한 반도체 패키지의 결함검사용 알고리즘 개발 / 김재열 , 송민중, 김창현 공저
- 발행사항
- 서울 : 한국전기전자재료학회, 2002.
- 형태사항
- pp. 26-31
- 주기사항
- 권말 색인 및 참고문헌 수록
- 기타저자
- 송민중, 김창현
- 기본자료저록
- 전기전자재료(Bulletin of the Korean Institute of Electrical & Electron : 제15권 제5호 (2002. 5) 2002, 05
- 원문정보
- url
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60219782
MARC
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