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GaN 후막의 구조적 결함이 전기적 특성에 미치는 영향
GaN 후막의 구조적 결함이 전기적 특성에 미치는 영향
Detailed Information
- Material Type
- 기사
- ISSN
- 03744914
- Author
- 박승환
- Title/Author
- GaN 후막의 구조적 결함이 전기적 특성에 미치는 영향 / 박승환 ; 정미나 ; 이정윤 ; 양민 ; 김홍승 ; 장지호 ; 오동철 ; 김정진 공저
- Publish Info
- 서울 : 한국물리학회, 2006.
- Material Info
- pp. 278-283
- Added Entry-Personal Name
- 정미나
- Added Entry-Personal Name
- 이정윤
- Added Entry-Personal Name
- 양민
- Added Entry-Personal Name
- 김홍승
- Added Entry-Personal Name
- 장지호
- Added Entry-Personal Name
- 오동철
- Added Entry-Personal Name
- 김정진
- Host Item Entry
- 새물리 : 제52권 제3호 (2006년 3월) 2006, 03
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60138640
MARC
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