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설계사양기반 rf집적회로의 시간영역 테스팅 기법
설계사양기반 rf집적회로의 시간영역 테스팅 기법
Detailed Information
MARC
008061218s2006 ULKa a KOR■022 ▼a12296368
■1001 ▼a한석붕
■245 ▼a설계사양기반 rf집적회로의 시간영역 테스팅 기법▼d한석붕 저▼e백한석▼e김강철 공저
■260 ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2006.
■300 ▼app. 34-47
■653 ▼a설계사▼aRF집적회로의▼a시간▼a영역▼a기법
■7001 ▼a백한석
■7001 ▼a김강철
■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제43권 제5호 (2006 5)▼d2006, 05
■URL ▼ahttp://www.ieek.or.kr
■SIS ▼aS027573▼b60014354▼h8▼s2
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