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BIST 환경에서의 천이 억제 스캔 셀 구조
BIST 환경에서의 천이 억제 스캔 셀 구조
Detailed Information
MARC
008061218s2006 ULKa a KOR■022 ▼a12296368
■1001 ▼a김인철
■245 ▼aBIST 환경에서의 천이 억제 스캔 셀 구조▼d김인철 저▼e송동섭▼e김유빈▼e김기철▼e강성호 공저
■260 ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2006.
■300 ▼app. 30-37
■653 ▼aBIST▼a환경▼a천이▼a억제▼a스캔▼a구조
■7001 ▼a송동섭
■7001 ▼a김유빈
■7001 ▼a김기철
■7001 ▼a강성호
■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제43권 제6호 (2006 6)▼d2006, 06
■URL ▼ahttp://www.ieek.or.kr
■SIS ▼aS027574▼b60014354▼h8▼s2
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