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BIST 환경에서의 천이 억제 스캔 셀 구조
BIST 환경에서의 천이 억제 스캔 셀 구조 / 김인철 저 , 송동섭 , 김유빈 , 김기철 , 강성호  공...
BIST 환경에서의 천이 억제 스캔 셀 구조

Detailed Information

자료유형  
 기사
ISSN  
12296368
저자명  
김인철
서명/저자  
BIST 환경에서의 천이 억제 스캔 셀 구조 / 김인철 저 , 송동섭 , 김유빈 , 김기철 , 강성호 공저
발행사항  
서울 : 대한전자공학회, 2006.
형태사항  
pp. 30-37
키워드  
BIST 환경 천이 억제 스캔 구조
기타저자  
송동섭
기타저자  
김유빈
기타저자  
김기철
기타저자  
강성호
기본자료저록  
전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제43권 제6호 (2006 6) 2006, 06
URL  
http://www.ieek.or.kr
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60086209

MARC

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