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순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조
순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조
Detailed Information
- 자료유형
- 기사
- ISSN
- 12296368
- 서명/저자
- 순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조 / 허경회, 강용석, 강성호 공저
- 발행사항
- 서울 : 대한전자공학회, 2000.
- 형태사항
- pp. 105-114
- 기타저자
- 허경회, 강용석, 강성호
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60043978
MARC
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