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 기사

ISSN  

12296368

서명/저자  

내장된 자체 테스트에서 경로 지연 고장 테스트를 위한 새로운 가중치 계산 알고리듬 / 허윤, 강성호 공저

발행사항  

서울 : 대한전자공학회, 2000.

형태사항  

pp. 72-84

키워드  

내장 테스트 에서 경로 지연 고장 위한 새로운 가중치 알고리

기타저자  

허윤, 강성호

기본자료저록  

전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제37권 제6호 (2000 6) 2000, 06

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Control Number  

kjul:60043894